Microscopia Força Atómica
Microscopia Força Atómica
AFM5100N
AFM5300E
AFM5500M
Preço sob Consulta
O Microscópio de força atómica está disponível em três modelos: AFM5100N, AFM5300E e AFM5500M.
O modelo AFM5100N é compacto e compatível com todos os modos existentes em microscopia de varrimento de sensor, sendo possível configurá-la para aplicações mais simples até às aplicações que exigem resolução atómica.
O modelo AFM5300E é caracterizado como sendo uma unidade ambiental e adequado para os utilizadores mais exigentes onde a configuração elementar garante de imediato resolução atómica e possibilita estudos em diversos ambientes, como por exemplo análise em alto vácuo.
O modelo AFM5500M é uma plataforma automatizada para amostras de média dimensão permitindo correlação direta entre AFM e SEM, possibilitando a passagem direta da amostra entre as duas técnicas.
Para todos os modelos estão disponíveis uma grande variedade de scanners que podem ser acoplados de acordo com aplicação. Análises em líquidos e em função da temperatura são também possíveis.
O Auto tune é uma função standard que de uma forma automática inicia a análise ajustando automaticamente os parâmetros de aquisição. Além desta função estão também disponíveis módulos software, tais como o SIS (sampling inteligent scan) ou control-Q, que simplificam bastante o trabalho do operador e tornam o AFM uma técnica simples de se usar.
Fotos
| Modelo | AFM5100N |
|---|---|
| Plataforma manual | XY ±2.5mm |
| Tamanho da Amostra | 35mm (Diâmetro) Espessura: 10mm |
| Gama Scanner | 20μm×20μm×1.5μm 100μm×100μm×15μm 150μm×150μm×5μm Closed loop - XY:110μm, Z:6μm |
| Deteção | Automático Ótico |
| Microscópio Óptico | Microscópio com tampa
(Magnificação ótica: ×4) Microscópio com Zoom (Magnificação ótica: ×7) Microscópio Metalúrgico (Magnificação ótica: ×5, ×20, ×50) |
| Anti-Vibração | Bancada Pneumática passiva e ativa Eletrónica ativa |
| Ambientes | Líquidos Temperatura: Ar: TA até 250ºC Líquidos: TA até 60ºC |
| Modelo | AFM5300E |
|---|---|
| Plataforma manual | XY ±2.5mm |
| Tamanho da Amostra | 25mm (Diâmetro) Espessura: 10mm |
| Gama Scanner | 20μm×20μm×1.5μm 100μm×100μm×15μm 50μm×150μm×5μm Closed loop - XY:15μm, Z:1.5μm |
| Deteção | Ótico (laser de baixa coerência) |
| Microscópio Óptico | Microscópio com Zoom
(Magnificação ótica: ×7) Microscópio Metalúrgico (Magnificação ótica: ×5, ×20, ×50) |
| Anti-Vibração | Pneumática ativa |
| Ambientes | Vácuo (9.9x10-5Pa) Líquidos Temperatura: Ar: -120ºC até 300ºC ou TA até 800ºC Líquidos: TA até 60ºC Humidade: 20 a 80% RH |
| Modelo | AFM5500M |
|---|---|
| Plataforma manual | XY ±50mm |
| Tamanho da Amostra | 100mm (Diâmetro) Espessura: 20mm |
| Gama Scanner | 200μm×200μm×15μm (close loop) |
| Deteção | Automático Ótico |
| Microscópio Óptico | Magnificação zoom: x1~x7 Magnificação monitor: x465 ～ x3255 (27 inch monitor) |
| Anti-Vibração | Eletrónica ativa |
| Ambientes | Líquidos Temperatura: Ar: TA até 250ºC Líquidos: TA até 60ºC |
Acessórios
Uma vasta gama de acessórios está disponível, que possibilita a realização de um elevado número de aplicações. Todos os acessórios podem ser adaptados pelo utilizador e adquiridos em qualquer altura. Contacte-nos com a sua aplicação para obter mais informação sobre a configuração adequada.
Controlador AFM
Controlador, AFM 5000II, compatível com os dois modelos da Hitachi. Suporta todos os modos microscopia varrimento sensor e permite adição posterior de módulos software dependendo do modo a utilizar. Capaz de obter imagens com 4096x4096 (pixéis x linhas) e até quatro canais de aquisição em simultâneo.
AFM5100N
AFM5500M
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Brochura AFM |
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Brochura AFM 5500M |