Microscopia Força Atómica

Microscopia Força Atómica
AFM5100N AFM5300E AFM5500M

Preço sob Consulta

O Microscópio de força atómica está disponível em três modelos: AFM5100N, AFM5300E e AFM5500M.

O modelo AFM5100N é compacto e compatível com todos os modos existentes em microscopia de varrimento de sensor, sendo possível configurá-la para aplicações mais simples até às aplicações que exigem resolução atómica.

O modelo AFM5300E é caracterizado como sendo uma unidade ambiental e adequado para os utilizadores mais exigentes onde a configuração elementar garante de imediato resolução atómica e possibilita estudos em diversos ambientes, como por exemplo análise em alto vácuo.

O modelo AFM5500M é uma plataforma automatizada para amostras de média dimensão permitindo correlação direta entre AFM e SEM, possibilitando a passagem direta da amostra entre as duas técnicas.

Para todos os modelos estão disponíveis uma grande variedade de scanners que podem ser acoplados de acordo com aplicação. Análises em líquidos e em função da temperatura são também possíveis.

O Auto tune é uma função standard que de uma forma automática inicia a análise ajustando automaticamente os parâmetros de aquisição. Além desta função estão também disponíveis módulos software, tais como o SIS (sampling inteligent scan) ou control-Q, que simplificam bastante o trabalho do operador e tornam o AFM uma técnica simples de se usar.


Fotos

Modelo AFM5100N
Plataforma manual XY ±2.5mm
Tamanho da Amostra 35mm (Diâmetro)
Espessura: 10mm
Gama Scanner 20μm×20μm×1.5μm
100μm×100μm×15μm
150μm×150μm×5μm
Closed loop - XY:110μm, Z:6μm
Deteção Automático
Ótico
Microscópio Óptico Microscópio com tampa (Magnificação ótica: ×4)
Microscópio com Zoom (Magnificação ótica: ×7)
Microscópio Metalúrgico (Magnificação ótica: ×5, ×20, ×50)
Anti-Vibração Bancada
Pneumática passiva e ativa
Eletrónica ativa
Ambientes Líquidos
Temperatura:
Ar: TA até 250ºC
Líquidos: TA até 60ºC
Modelo AFM5300E
Plataforma manual XY ±2.5mm
Tamanho da Amostra 25mm (Diâmetro)
Espessura: 10mm
Gama Scanner 20μm×20μm×1.5μm
100μm×100μm×15μm
50μm×150μm×5μm
Closed loop - XY:15μm, Z:1.5μm
Deteção Ótico (laser de baixa coerência)
Microscópio Óptico Microscópio com Zoom (Magnificação ótica: ×7)
Microscópio Metalúrgico (Magnificação ótica: ×5, ×20, ×50)
Anti-Vibração Pneumática ativa
Ambientes Vácuo (9.9x10-5Pa)
Líquidos
Temperatura:
Ar: -120ºC até 300ºC ou TA até 800ºC
Líquidos: TA até 60ºC
Humidade: 20 a 80% RH
Modelo AFM5500M
Plataforma manual XY ±50mm
Tamanho da Amostra 100mm (Diâmetro)
Espessura: 20mm
Gama Scanner 200μm×200μm×15μm (close loop)
Deteção Automático
Ótico
Microscópio Óptico Magnificação zoom: x1~x7
Magnificação monitor: x465 ~ x3255 (27 inch monitor)
Anti-Vibração Eletrónica ativa
Ambientes Líquidos
Temperatura:
Ar: TA até 250ºC
Líquidos: TA até 60ºC

Acessórios

Acessórios

Uma vasta gama de acessórios está disponível, que possibilita a realização de um elevado número de aplicações. Todos os acessórios podem ser adaptados pelo utilizador e adquiridos em qualquer altura. Contacte-nos com a sua aplicação para obter mais informação sobre a configuração adequada.


Controlador AFM

Controlador AFM

Controlador, AFM 5000II, compatível com os dois modelos da Hitachi. Suporta todos os modos microscopia varrimento sensor e permite adição posterior de módulos software dependendo do modo a utilizar. Capaz de obter imagens com 4096x4096 (pixéis x linhas) e até quatro canais de aquisição em simultâneo.


AFM5100N

AFM5500M

Brochura AFM
Brochura AFM 5500M